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離子遷移(CAF)失效分析

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簡介

CAF失效,即離子遷移失效,電子整機產品中的基板與電子器件之間或線路之間由于存在線間分布電場,會使處于兩極之間某些金屬離子發生電場作用下的遷移,即陽離子向處在陰極狀態的部位移動,陰離子會向處于陽極狀態的部位移動。離子在PCB電路的這種電遷移有著極大危險,輕則引起設備故障,重則會因引起短路事故而導致火災。

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解析案例


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